![](Images/empty.gif) |
Микропроцессорный прибор для выявления: поверхностных и подповерхностных дефектов в изделиях, выполненных из ферромагнитных материалов, в т.ч. в сварных соединениях, измерения напряженности постоянных, переменных и импульсных магнитных полей на поверхности деталей и в свободном пространстве, измерения градиента напряженности постоянных, переменных и импульсных магнитных полей на поверхности деталей и в свободном пространстве. При выявлении дефектов работает с фиксированным порогом. Порог выставляется вручную или автоматически по сигналу дефекта. Позволяет с помощью компьютера построить трехмерную картину поля или градиента над поверхностью детали |
![](Images/empty.gif) |